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    天光測控 ST-PC-X半導體器件老化測試篩選系統

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    認證資料 Certification Data

    西安天光測控技術有限公司

    • 聯系人:郭女士
    • 官網地址:www.xatgck.com
    • 主營產品:半導體,測試設備,的研發,生產,銷售
    • 所在地:陜西省-西安市-雁塔區陜西省西安市高陵區涇環北路1798號11-303
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    加工定制 :
    類型 :
    柜式
    是否有現貨 :
    品牌 :
    天光測控
    測量范圍 :
    Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等半導體器件的環境老化
    規格 :
    HTRB高溫反偏,HTGB高溫柵偏,H3TRB高溫高濕反偏

    產品詳情

    Product details

    *品 ?????牌: ?天光測控

    *型 ?????號: ?ST-PC-X

    *用 ?????途: ?可測試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等半導體器件的環境老化狀態,作評估篩選檢測。

    *測 試類 別: ?HTRB高溫反偏,HTGB高溫柵偏,H3TRB高溫高濕反偏1、可以通過計算機設定試驗參數(Vce、Ices、Tc、時間、采樣周期)和監控參數(Vce、Ice、Tc、T,實時采集并記錄試驗過程中每個工位的溫度(Tc)、時間、電壓、漏電流等,并可隨時瀏覽數據。

    2、?當被測器件失效時(Ices超限),系統能自動檢測、報警,并可及時切斷高壓電源(不需要中斷加熱),停止試驗,該失效點的詳細數據會被記錄下來,并記錄失效時間節點。

    使用說明:

    1、可以通過計算機設定試驗參數(Vce、Ices、Tc、時間、采樣周期)和監控參數(Vce、Ice、Tc、T,實時采集并記錄試驗過程中每個工位的溫度(Tc)、時間、電壓、漏電流等,并可隨時瀏覽數據。

    2、?當被測器件失效時(Ices超限),系統能自動檢測、報警,并可及時切斷高壓電源(不需要中斷加熱),停止試驗,該失效點的詳細數據會被記錄下來,并記錄失效時間節點。

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    *關于售后:質保一年,提供免費上門巡檢服務;客服7*24小時開通/電腦遠程服務。

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